濺射靶材檢測
1對1客服專屬服務(wù),免費(fèi)制定檢測方案,15分鐘極速響應(yīng)
發(fā)布時間:2024-05-21 08:15:32 更新時間:2025-02-18 14:32:44
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濺射靶材檢測去哪里做?濺射是制備薄膜材料的主要技術(shù)之一中析研究所檢測中心可對各類濺射靶材檢測。
高純金屬濺射靶材,高純度合金濺射靶材,氧化物(O)陶瓷濺射靶材,氮化物(N)陶瓷濺射靶,碳化物(C)陶瓷濺射靶,氟化物(F)陶瓷濺射靶,硅化物(Si)陶瓷濺射靶,硫化物(S)陶瓷濺射靶,硼化物(B)陶瓷濺射靶;硒化物(Se)陶瓷濺射靶,碲化物(Te)陶瓷濺射靶,銻化物陶瓷濺射靶。
尺寸、平整度、純度、各項(xiàng)雜質(zhì)含量、密度、N/O/C/S、晶粒尺寸與缺陷控制;表面粗糙度、電阻值、晶粒尺寸均勻性、成份與組織均勻性、異物(氧化物)含量與尺寸、導(dǎo)磁率、超高密度與超細(xì)晶粒
ASTM F1709-1997(2008)電子薄膜用高純度鈦濺射靶材的規(guī)格
GB/T 29658-2013電子薄膜用高純鋁及鋁合金濺射靶材
T/ZZB 0093-2016集成電路用高純鈦濺射靶材
T/ZZB 0639-2018氧化鋅鋁磁控濺射靶材
YS/T 718-2009平面磁控濺射靶材 光學(xué)薄膜用鈮靶
YS/T 719-2009平面磁控濺射靶材 光學(xué)薄膜用硅靶
YS/T 819-2012電子薄膜用高純銅濺射靶材
YS/T 837-2012濺射靶材-背板結(jié)合質(zhì)量超聲波檢驗(yàn)方法
YS/T 893-2013電子薄膜用高純鈦濺射靶材
YS/T 935-2013電子薄膜用高純金屬濺射靶材純度等級及雜質(zhì)含量分析和報告標(biāo)準(zhǔn)指南
1、中析研究所是集體所有制檢驗(yàn)中心,實(shí)驗(yàn)室研發(fā)及質(zhì)量檢驗(yàn)時間短,花費(fèi)低,實(shí)驗(yàn)方案完備,出具的檢驗(yàn)報告科學(xué)、公正、準(zhǔn)確。
2、中析研究所國內(nèi)多所實(shí)驗(yàn)室分支,支持國內(nèi)上門取樣/寄樣檢測!
3、實(shí)驗(yàn)精確度高中析研究所具備認(rèn)可的科研成果檢測資格,檢驗(yàn)報告可以通過國內(nèi)二維碼防偽系統(tǒng)查詢真?zhèn)巍?/p>
4、中析研究所具有一流的檢測儀器,各種檢測儀器及設(shè)備300百多臺套。
5、中析研究所資質(zhì)中析研究所具有計量認(rèn)證(),資質(zhì)齊全,有保障,出具規(guī)范的檢驗(yàn)報告
6、支持36種語言編寫MSDS服務(wù)。
7、所有實(shí)驗(yàn)都簽訂保密協(xié)議,注重保護(hù)客戶隱私。
8、中析研究所與眾多企業(yè),高校,科研院所等保持合作關(guān)系,以科學(xué)研究為己任,不斷提高自身檢測水平,致力于搭建覆蓋全國,服務(wù)全球的檢測分析平臺。
1、郵寄寄樣或上門取樣
2、工程師初步檢測
3、根據(jù)試驗(yàn)復(fù)雜程度及樣品數(shù)量報價
4、雙方確定簽訂保密協(xié)議,實(shí)驗(yàn)室開始實(shí)驗(yàn)
5、完成實(shí)驗(yàn):檢測周期一般在7-15個工作日(部分特殊試驗(yàn)周期會延長),可咨詢工程師
6、出具檢驗(yàn)報告,后期服務(wù)。
證書編號:241520345370
證書編號:CNAS L22006
證書編號:ISO9001-2024001
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