一、碳化硅（SiC）檢測(cè)

1. 基礎(chǔ)特性檢測(cè)

• 外觀檢查：通過(guò)顯微鏡或圖像分析儀觀察顆粒顏色均勻性、形態(tài)完整性，檢測(cè)團(tuán)聚或破碎現(xiàn)象。
• 密度測(cè)定：使用比重瓶測(cè)表觀密度，氦氣比重計(jì)測(cè)真密度，評(píng)估材料純度。

2. 物理性能檢測(cè)

• 粒徑分布：激光粒度儀或篩分法分析顆粒粒徑分布，確保符合應(yīng)用規(guī)格。
• 化學(xué)成分：X射線熒光光譜（XRF）和X射線衍射（XRD）檢測(cè)SiC純度及雜質(zhì)（如游離碳、SiO?）。
• 晶型分析：XRD區(qū)分3C-SiC、4H-SiC等晶型，優(yōu)化材料性能。

3. 機(jī)械與熱性能

• 抗拉/抗折強(qiáng)度：測(cè)試材料機(jī)械強(qiáng)度及抗彎性能。
• 熱膨脹系數(shù)：評(píng)估高溫穩(wěn)定性。
• 斷裂韌性：檢測(cè)抗斷裂能力。

4. 應(yīng)用專項(xiàng)檢測(cè)

• 表面粗糙度：評(píng)估磨料或半導(dǎo)體器件的表面質(zhì)量。
• 耐腐蝕性：模擬不同環(huán)境測(cè)試化學(xué)穩(wěn)定性。

二、碳化鎢（WC）檢測(cè)

1. 核心指標(biāo)檢測(cè)

• 密度：反映燒結(jié)質(zhì)量，檢測(cè)疏松程度。
• 硬度：采用洛氏或維氏硬度計(jì)，評(píng)估耐磨性。
• 橫向斷裂強(qiáng)度：測(cè)試材料韌性，避免脆性失效。

2. 微觀結(jié)構(gòu)分析

• 金相組織：通過(guò)金相顯微鏡觀察晶粒大小、碳含量及疏松分布。
• 磁飽和與缺陷：檢測(cè)磁性特性及微觀缺陷（如孔隙、裂紋）。

3. 成分與工藝檢測(cè)

• 化學(xué)成分：光譜分析或化學(xué)滴定法測(cè)定WC及鈷粘結(jié)劑含量。
• 碳含量：紅外碳硫儀精確控制化合碳比例。
• 涂層與合金性能：評(píng)估碳化鎢涂層的結(jié)合強(qiáng)度及合金切削性能。

4. 標(biāo)準(zhǔn)化檢測(cè)

• 執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：GB/T 40067-2021（微觀組織檢測(cè)）、GB/T 5242-2006（綜合性能）。
• 納米材料檢測(cè)：針對(duì)納米碳化鎢粉末，采用SEM/EDS分析形貌及元素分布。

三、檢測(cè)技術(shù)對(duì)比

四、檢測(cè)機(jī)構(gòu)服務(wù)

提供：

• 覆蓋材料：納米碳化硅、電子級(jí)SiC、WC涂層、硬質(zhì)合金等。
• 檢測(cè)項(xiàng)目：成分分析、力學(xué)性能、環(huán)境適應(yīng)性、失效分析等。
• 認(rèn)證支持：ISO/IEC 17025認(rèn)證，國(guó)際互認(rèn)檢測(cè)報(bào)告。

檢測(cè)機(jī)構(gòu)資質(zhì)證書

CMA認(rèn)證

檢驗(yàn)檢測(cè)機(jī)構(gòu)資質(zhì)認(rèn)定證書

證書編號(hào)：241520345370

有效期至：2030年4月15日

CNAS認(rèn)可

實(shí)驗(yàn)室認(rèn)可證書

證書編號(hào)：CNAS L22006

有效期至：2030年12月1日

ISO認(rèn)證

質(zhì)量管理體系認(rèn)證證書

證書編號(hào)：ISO9001-2024001

有效期至：2027年12月31日

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